Materials reliability issues in microelectronics - symposium held April 30-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A
- Författare
- (Editors, James R. Lloyd, Frederick G. Yost, Paul S. Ho.)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Materials Research Society | cop. 1991 | USA, Pittsburgh, Pa | xiii, 358 sidor. ill. |